본문 바로가기
bar_progress

글자크기 설정

닫기

이노와이어리스, 'LTE시스템 EVM 측정 장치' 특허권 취득

시계아이콘읽는 시간10초

[아시아경제 손선희 기자] 이노와이어리스는 'LTE 시스템에서 PHICH의 EVM 측정 장치'에 대한 특허권을 취득했다고 25일 공시했다.


회사는 "LTE 시스템에서 효율적이면서도 간편하게 PHICH의 EVM을 측정할 수 있도록 한 LTE 시스템에서 PHICH의 EVM 측정 장치에 관한 특허"라고 설명했다.




손선희 기자 sheeson@asiae.co.kr
<ⓒ투자가를 위한 경제콘텐츠 플랫폼, 아시아경제(www.asiae.co.kr) 무단전재 배포금지>

AD
AD

당신이 궁금할 이슈 콘텐츠

AD

맞춤콘텐츠

AD

실시간 핫이슈

AD

위로가기