이노와이어리스, 'LTE시스템 EVM 측정 장치' 특허권 취득

[아시아경제 손선희 기자] 이노와이어리스는 'LTE 시스템에서 PHICH의 EVM 측정 장치'에 대한 특허권을 취득했다고 25일 공시했다.회사는 "LTE 시스템에서 효율적이면서도 간편하게 PHICH의 EVM을 측정할 수 있도록 한 LTE 시스템에서 PHICH의 EVM 측정 장치에 관한 특허"라고 설명했다. 손선희 기자 sheeson@asiae.co.kr<ⓒ세계를 보는 창 경제를 보는 눈, 아시아경제(www.asiae.co.kr) 무단전재 배포금지>

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