이민우기자
[아시아경제 이민우 기자] LG CNS가 자사의 빅데이터와 구글의 인공지능(AI)을 결합해 제품 불량률을 낮추는 기술을 개발했다.
LG CNS는 10일(현지시간) 미국 샌프란시스코에서 '구글 클라우드 넥스트' 행사에서 이 같은 기술을 발표했다. 구글 클라우드 넥스트는 구글 클라우드 조직에서 개최하는 개발자 행사로 3만명 이상이 참석하는 구글 주요 행사 중 하나다.
발표자로 나선 이성욱 LG CNS AI빅데이터담당 상무는 구글과 협력해 제조공장 부품 불량 판정에 AI 이미지 판독 기술을 적용한 사례를 소개했다. LG CNS의 AI빅데이터 플랫폼 '디에이피(DAP)'가 AI 심층학습을 통해 수만개의 양품과 불량품 데이터를 분석하면 구글의 클라우드 기반 AI 솔루션 '오토ML(머신러닝)'이 이를 토대로 각 부품별 불량 판정용 AI 모델을 만들어내는 식이다.
LG CNS는 이 같은 모델을 LG 계열사 제조 공장에 시험한 결과 AI모델 제작 기간은 1주일에서 2시간까지 줄었으며 불량품 판독 속도도 30배 이상 빨라졌다고 설명했다. 또한 판정 난이도가 높은 공정에서도 판독률 99.9%를 달성했다고 밝혔다. 이에 따라 기존 AI 학습 업무를 맡던 개발자들은 불량 데이터 분석가로 전환해 전문성 높은 업무에 집중할 수 있게 됐다.
LG CNS는 향후 이 같은 기술을 LG 계열사의 LCD·OLED 패널, 화학 제품 등 제조 영역의 결함 감지 및 품질 관리 분야에 확대 적용하겠다는 방침이다. 이 상무는 "스마트팩토리 현장에 정확도 99.9%의 비전검사 기술을 제공하며 글로벌 대표 지능형 비전검사 기업으로 도약할 것"이라고 했다.
이민우 기자 letzwin@asiae.co.kr<ⓒ경제를 보는 눈, 세계를 보는 창 아시아경제(www.asiae.co.kr) 무단전재 배포금지>