[아시아경제 박지성 기자]바른전자는 미세구조물의 잔류 응력 시험 패턴에 관한 특허를 취득했다고 9일 공시했다.
회사측은 멤스 가속도센서 개발 일정 단축과 안정된 양산 시스템 구축에 활용할 계획이라고 밝혔다
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박지성 기자 jiseong@
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박지성기자
입력2010.08.09 11:54
수정2010.08.09 11:55
[아시아경제 박지성 기자]바른전자는 미세구조물의 잔류 응력 시험 패턴에 관한 특허를 취득했다고 9일 공시했다.
회사측은 멤스 가속도센서 개발 일정 단축과 안정된 양산 시스템 구축에 활용할 계획이라고 밝혔다
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박지성 기자 jiseong@
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