인텍플러스, 표면형상 측정시스템 관련 특허권 취득

[아시아경제 이혜영 기자]인텍플러스는 표면형상 측정시스템 및 이를 이용한 측정방법에 관한 특허권을 취득했다고 28일 공시했다. 이혜영 기자 itsme@asiae.co.kr<ⓒ세계를 보는 창 경제를 보는 눈, 아시아경제(www.asiae.co.kr) 무단전재 배포금지>