[아시아경제 오현길 기자]테스는 p-n 접합 구조를 포함하는 반도체 소자의 n형 반도체층 평가방법에 대한 특허권을 취득했다고 15일 공시했다.회사측은 이 특허가 태양전지 및 제조장치와 관련된 것으로 특허기술 적용을 통한 제품경쟁력을 강화하는데 쓰인다고 덧붙였다.오현길 기자 ohk0414@<ⓒ세계를 보는 창 경제를 보는 눈, 아시아경제(www.asiae.co.kr) 무단전재 배포금지>
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