인텍플러스, 표면 형상 측정 시스템 美 특허

[아시아경제 김철현 기자]인텍플러스는 표면 형상 측정 시스템 및 이를 이용한 측정 방법에 대한 미국 특허를 취득했다고 7일 공시했다. 회사는 이를 외관검사장비의 경쟁력 강화에 활용할 계획이다.김철현 기자 kch@<ⓒ세계를 보는 창 경제를 보는 눈, 아시아경제(www.asiae.co.kr) 무단전재 배포금지>